光元件測試 / APD Burn-In 老化測試系統 溫度控制方式： 加熱器/TEC 特色 測試應用 技術文件 1. APD / PD 光接收器測試系統2. APD Vbr / Ir / TIA 電流 / TIA+_TIA-電壓3. 可程式切換腳位4. 室溫 / 高溫 雙溫測試5. 高速PD / APD 測試系統6. Capacity (顆)：1344 / 1536 / 1792 / 2048 TO46 APD 如需技術支援，請聯絡renata-isf@instrontek.com
