光元件老化燒測BURN-IN系列 / 矽光子 / 光模塊 Burn-In 溫度控制方式： TEC 特色 測試應用 技術文件 1. 光模塊老化燒測系統2. 抽屜式大容量 / 測試數量可客製化2. 高精度獨立通道電流源3. SFP / OSFP / QSFP-DD 光模塊 / COB4. 高穩定性模塊電壓輸出/ 電流量測/ DDM 讀取5. 400G / 800G / 1.6T / 3.2T Trx / COB / 矽光子 老化測試6. Capacity (顆): 96 / 100 / 128 / or 客製化 400G / 800G / 1.6T / 3.2T Trx / COB / 矽光子 老化測試OSFP / QSFP-DD /XCVR 如需技術支援，請聯絡renata-isf@instrontek.com
