光元件老化燒測BURN-IN系列 / APD Burn-In 老化測試系統 溫度控制方式： 烤箱熱風 特色 測試應用 技術文件 1. APD / PD 光接收器老化燒測系統2. 獨立通道電源 / 可偵測APD Vbr電壓/TIA 電流 / TIA+_TIA-電壓3. 可程式切換腳位4. 高精準度溫控與Vr / Ir 量測5. 高速PD / APD 老化燒測系統6. Capacity (顆)：1344 / 1536 / 1792 / 2048 TO46 APD 如需技術支援，請聯絡renata-isf@instrontek.com
